半導體電阻率測試儀是我廠推出的的普及型半導體電阻率測試儀器，本儀器是根據四探針原理，適合半導體器材廠，材料廠用於測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率，方塊電阻（簿層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻，經過對用戶、半導體廠測試的調查，根據美國ASTM標準的規定，在電路和探頭方麵作了重大的修改和上的許多**，它*適合於半導體器材廠檢測方麵對中值、高阻矽、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量精度高，穩定性好，輸入阻抗高，使用方便、價格低廉等特點。